MICROSCOPE
SuperView W1 – 3D Profilomètre optique de surface
Interférométrie à lumière blanche | Forme et rugosité de surface 3D nanométrique
Le CHOTEST SuperView W1 est un profilomètre optique de surface de pointe, conçu pour l’analyse 3D de surface à haute précision au niveau nanométrique. Utilisant l’interférométrie à lumière blanche, il offre des mesures précises, répétables et sans contact de la forme de surface, de la rugosité et de la hauteur d’étape — idéal pour la recherche et le contrôle qualité dans les secteurs des semi-conducteurs, de l’optique, de la microélectronique et des matériaux.
SuperView W3 – Profilomètre optique de surface 3D
Profilomètre optique 3D grand format pour l’analyse des surfaces de semi-conducteurs et de précision
Le CHOTEST SuperView W3 est un profilomètre optique de surface 3D haut de gamme, conçu pour les applications de mesure à grande échelle.
Utilisant l’interférométrie à lumière blanche, il mesure la forme et la rugosité de surface en 3D avec une précision nanométrique sur de larges plaquettes et échantillons.
Conçu pour la fabrication de semi-conducteurs, il prend en charge la mesure automatique de plaquettes jusqu’à 12 pouces et offre un fonctionnement en un seul clic, alliant productivité et précision.
En savoir plus
SuperView WT Series – Profilomètre optique de surface 3D hybride
Interférométrie à lumière blanche + microscopie confocale | Double technologie pour une précision nanométrique
La série CHOTEST SuperView WT combine la puissance de l’interférométrie à lumière blanche et de la microscopie confocale dans un seul profilomètre optique 3D hybride.
Il permet des mesures de surface sans contact et à l’échelle nanométrique pour une large gamme de matériaux — des revêtements optiques ultra-lisses aux composants industriels microstructurés ou rugueux..
En basculant automatiquement entre les modes interférométrie et confocal, la série WT offre une précision d’imagerie, une polyvalence et une rapidité optimales, la rendant idéale pour la R&D avancée, la production de semi-conducteurs et la métrologie de surface de haute précision..
SuperView WX100 – Sonde d’interférométrie à lumière blanche
Inspection en ligne de la rugosité et du profil 3D
Le CHOTEST SuperView WX100 est une sonde compacte et haute précision à interférométrie de lumière blanche, conçue pour la mesure en ligne de la rugosité et du profil 3D des surfaces.
Il combine une résolution nanométrique, une conception mécanique robuste et des capacités d’intégration flexibles, le rendant idéal pour l’automatisation industrielle et les systèmes de métrologie de haute précision.
Conçu pour une intégration dans les lignes de production, les systèmes d’automatisation ou les plateformes de coordonnées multisenseurs, le WX100 offre une mesure de surface en temps réel avec une précision sans contact et un contrôle intelligent.
En savoir plus
VT6000 Series – Microscope confocal
Mesure 3D de surface haute précision | Technologie confocale à disque rotatif
La série CHOTEST VT6000 est un système de microscope confocal haute précision, conçu pour la mesure micro et nanométrique d’une large gamme de composants de précision et de surfaces de matériaux.
Grâce à son système optique confocal rotatif et à ses algorithmes avancés de reconstruction 3D, le VT6000 offre une analyse de surface sans contact et haute précision — des surfaces polies ultra-lisses aux matériaux rugueux et réfléchissants.
La série comprend plusieurs modèles (VT6100, VT6200, VT6300) afin de répondre à différents besoins de mesure, allant des configurations de recherche compactes aux systèmes d’inspection industrielle à grande échelle.