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Microscope Superview W1

Profilomètre optique de surface 3D
Sonde à interférométrie en lumière blanche | Forme et rugosité de surface 3D nanométrique
Inspection en ligne de la rugosité et du profil 3D
WX100


Description Key Features Software: XtremeVision 3D Application Applications Cases Lens Spec General Spec Videos


SuperView W1 – Profilomètre optique de surface 3D

Interférométrie à lumière blanche | Forme et rugosité de surface 3D nanométrique

Le WX100 est une sonde WLI compacte et autonome, conçue pour être intégrée dans des lignes de production ou des stations de mesure personnalisées. Elle apporte la puissance du profilage 3D et de la mesure de rugosité à l’échelle nanométrique directement dans votre processus de fabrication pour une inspection en ligne. Dotée d’une inclinaison motorisée et d’un SDK complet, elle constitue le composant idéal pour automatiser le contrôle qualité et développer des solutions métrologiques sur mesure.



Caractéristiques principales


  • Fonction de mesure : permet un balayage Z haute précision de la surface de l’échantillon et l’obtention d’une image 3D.

  • Fonction d’analyse : permet d’obtenir des données 2D et 3D telles que la rugosité de surface et le contour à l’échelle micro-nanométrique.

  • Fonction de programmation : prend en charge des étapes préconfigurées de traitement et d’analyse des données, permettant d’effectuer l’ensemble du processus — de la mesure à l’analyse — en un seul clic.

  • Analyse par lots : les modèles de traitement et d’analyse des données peuvent être personnalisés selon les besoins du client, permettant une analyse par lots en un clic pour les mêmes types de paramètres.

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Logiciel : XtremeVision 3D

Le logiciel intégré XtremeVision 3D combine :

  • Balayage et analyse d’images 3D

  • Mesure automatisée

  • Filtrage intelligent du bruit

  • Balayage hybride (interférométrie à lumière blanche + confocal)

Il permet la reconnaissance automatique des caractéristiques et la mesure de la hauteur d’étape avec une répétabilité atteignant 0,005 μm et une précision par pas de 0,08 %.

Le logiciel de mesure 3D microscopique de deuxième génération, développé en interne, intègre quatre fonctions modulaires : balayage d’image, analyse 3D, mesure d’image et mesure automatisée.

Il s’adapte parfaitement à tous les modèles de machines 3D microscopiques des séries CHOTEST W, VT et WT, et peut identifier automatiquement le type de modèle.
Le logiciel peut, en particulier, basculer automatiquement entre les modes de balayage en interférométrie à lumière blanche et en microscopie confocale sur le profilomètre optique 3D hybride 2-en-1.

XtremeVision Pro intègre l’expérience CHOTEST dans le domaine de la mesure d’image par éclairage flash, permettant d’associer et de mesurer automatiquement les dimensions du plan XY telles que la distance point-ligne, l’angle, le rayon, etc.

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Applications

  • Semi-conducteur, plaquette de silicium polie, plaquette de silicium fine, plaquette de circuit intégré (IC)
  • Électronique 3C, rugosité du verre saphir, défauts de moule de coque métallique, différence de hauteur d’écran en verre

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Cas d’application

Mesure et analyse de la forme et des caractéristiques de profil de surface de divers produits, composants et matériaux, tels que la planéité, la rugosité, l’ondulation, l’aspect, les défauts de surface, l’usure, la corrosion, les jeux, les trous, les marches, la courbure, la déformation, etc.

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Spécifications des objectifs



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Video

Super WX100 AU – système de mesure optique 3D de profil entièrement automatisé



Super WX100 AU – système optique de mesure de profil 3D entièrement automatisé

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